用途概述

HWS系列恒溫恒濕稱重系統(tǒng)，又稱濾膜平衡稱量系統(tǒng)、超細(xì)顆粒物稱重系統(tǒng)、總懸浮顆粒物稱重系統(tǒng)、大氣監(jiān)測(cè)稱重工作站、恒溫恒濕工作站。為滿足環(huán)保部標(biāo)中相關(guān)規(guī)定的要求，在恒溫恒濕環(huán)境內(nèi)放置高精度天平，將要稱量的樣品放入箱體內(nèi)平衡24小時(shí)后再進(jìn)行稱量。本產(chǎn)品解決了實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度濕度的變化對(duì)樣品稱重結(jié)果的影響，極大的提高了稱量樣品結(jié)果的準(zhǔn)確性。該系統(tǒng)適用稱量固定污染源廢氣等低濃度顆粒物的重量，主要應(yīng)用于環(huán)境、氣象監(jiān)測(cè)站中大氣稱量濾膜、以及科研機(jī)構(gòu)和第三方檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室等領(lǐng)域。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

v 采用彩色觸摸屏控制系統(tǒng)，HWS系列恒溫恒濕稱重系統(tǒng)實(shí)時(shí)顯示溫濕度數(shù)值并可通過溫濕度曲線分別查看溫濕度波動(dòng)曲線，通過

表格記錄查看溫濕度歷史數(shù)據(jù)；

v 內(nèi)膽采用不銹鋼材質(zhì)，外殼靜電噴塑，壓縮機(jī)等振動(dòng)源與箱體分離，避免設(shè)備震動(dòng)對(duì)稱重系統(tǒng)干擾；

v 二次優(yōu)化設(shè)計(jì)風(fēng)道結(jié)構(gòu)，既保證箱體內(nèi)溫濕度均勻，又可避免氣流擾動(dòng)影響稱量結(jié)果；

v 升溫、降溫系統(tǒng)獨(dú)立，系統(tǒng)穩(wěn)定過程高，過濾過程30分鐘以內(nèi)，穩(wěn)定后可即時(shí)稱重；

v 箱體負(fù)壓密封，操作時(shí)內(nèi)外氣壓隔離，防止樣品交叉污染及環(huán)境顆粒物受到干擾；

v 具有漏電、過載、短路，超溫、缺水、風(fēng)機(jī)過熱、壓縮機(jī)等安全保護(hù)以及溫度超溫報(bào)警等安全功能;

v 工作臺(tái)配備多級(jí)減震支架，保證稱重系統(tǒng)準(zhǔn)確可靠，可定制樣品支架，適配濾膜、量筒等多種稱量載體；

v 集成天平通訊接口，兼容梅特勒、賽多利斯等品牌天平，稱重?cái)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)同步顯示，并自動(dòng)記錄到儀表系統(tǒng)內(nèi)；

v 可擴(kuò)展為全自動(dòng)恒溫恒濕稱重系統(tǒng)，預(yù)留機(jī)械臂、去靜電模塊、自動(dòng)換樣系統(tǒng)接口，可升級(jí)為無人值守稱重平

臺(tái)，可PLC編程控制，實(shí)現(xiàn)樣品全自動(dòng)稱重。

符合標(biāo)準(zhǔn)

※符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求；

※電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T2423.3-93（IEC68-2-3）；

※電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T2423.4-93(IEC68-2-30)；

※GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法；

※GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》；

※GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》；

※GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；

※HJ836-2017《固定污染源廢氣 低濃度顆粒物的測(cè)定 重量法》；

※HJ-76固定污染源煙氣排放連續(xù)檢測(cè)技術(shù)要求及技術(shù)規(guī)范；

※HJ656環(huán)境空氣顆粒物（PM2.5）手工監(jiān)測(cè)方法（重量法）技術(shù)規(guī)范；

※HJ/T48  煙塵采樣器技術(shù)條件；

※HJ/T373  固定原廢氣監(jiān)測(cè)技術(shù)質(zhì)量保證與質(zhì)量控制技術(shù)規(guī)范；

※HJ/T397  固定原廢氣監(jiān)測(cè)技術(shù)規(guī)范；

※JJG/1036電子天平；

※GB/T16157 固定污染源排氣中低濃度顆粒物采樣規(guī)定與氣態(tài)污染物采樣方法。

新標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試限制要求：

HJ836-2017《固定污染源廢氣 低濃度顆粒物的測(cè)定 重量法》的檢測(cè)限：《固定污染源中顆粒物測(cè)定與氣態(tài)污染物采樣方法》（GB/T16157-1996）的修改內(nèi)容：增加“1.2在測(cè)定固定污染源排氣中顆粒物濃度時(shí)，濃度小于等于20mg/m3,適用于HJ836(《固定污染源廢氣 低濃度顆粒物的測(cè)定重量法》），濃度大于20mg/m3且不超過50mg/m3時(shí)，測(cè)定結(jié)果表述"<20mg/m3。

技術(shù)參數(shù)：